Patentes, corporaciones multinacionlaes y tecnología : un examen crítico de la legislación internacional /

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Katz, Jorge
Formato: Artigo
Publicado: 1972.
Subjects:
Tags: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!