বিষয়বস্তু এড়িয়ে যান
VuFind
Volver al sitio principal
লগ ইন করুন
ভাষা
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Māori
সমস্ত ক্ষেত্রসমূহ
আখ্যা
লেখক
বিষয়
ডাক সংখ্যা
আইসবিএন/আইএসএসএন
ট্যাগ
অনুসন্ধান
বিস্তৃত
Construcción de un test de in...
সাইট করুন
এই পাঠটি
এই ই-মেইলটি
মুদ্রণ
নথি এক্সপোর্ট করুন
এক্সপোর্ট করুন RefWorks
এক্সপোর্ট করুন EndNoteWeb
এক্সপোর্ট করুন EndNote
তালিকাভুক্ত করুন
স্থায়ী লিঙ্ক
Construcción de un test de inteligencia para niños:la pruebba de aptitudes generales inferior /
সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:
García Yagüe, Juan
বিন্যাস:
প্রবন্ধ
প্রকাশিত:
1965.
বিষয়গুলি:
PSICOLOGIA
ট্যাগগুলো:
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
হোল্ডিংস
বিবরন
মন্তব্য করুন
অনুরূপ উপাদানগুলি
স্টাফেদের বিবরণ দেখুন
বিবরন
দৈহিক বর্ননা:
p. 95-106 ; 23 cm.
অনুরূপ উপাদানগুলি
Los tests: manual de pruebas psicométricas de inteligencia y de aptitudes
অনুযায়ী: Székely, Béla
প্রকাশিত: (1946)
Test de inteligencia para niños WISC III : manual /
অনুযায়ী: Wechsler, David
প্রকাশিত: (1994)
Test de inteligencia para niños (WISC) : manual de instrucciones y evaluación /
অনুযায়ী: Wechsler, David
প্রকাশিত: (1980)
Test de inteligencia para niños WISC IV : manual técnico y de interpretación /
অনুযায়ী: Wechsler, David
প্রকাশিত: (2011)
Tipificación del Test de aptitudes mentales (AMPE FACTORIAL) /
অনুযায়ী: Garro de Martín, Lidia Mirtha
প্রকাশিত: (1973)